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2026-07-12 01:35:39

闩锁效应

基本属性

  • 拼音字母shuan suo xiao ying
  • 拼音首字母ssxy
  • 注音符号ㄕㄨㄢ ㄙㄨㄛ ㄒㄧㄠ ㄧㄥ

扩展释义

闩锁效应(Latch-up)是CMOS集成电路中一个重要的问题,这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。

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