低能电子衍射

基本属性

• 拼音字母di neng dian zi yan she
• 拼音首字母dndzys
• 注音符号ㄉㄧ ㄋㄥ ㄉㄧㄢ ㄗ ㄧㄢ ㄕㄜ

扩展释义

低能电子衍射（英语：Low-energy electron diffraction，LEED）是一种用以测定单晶表面结构的实验手段，使用准直的低能电子束（20–200 eV）[1]轰击样品表面，可在荧光屏上观测到被衍射的电子所形成的光斑，进而表征样品的表面结构。