探伤检测

基本属性

• 拼音字母tan shang jian ce
• 拼音首字母tsjc
• 注音符号ㄊㄢ ㄕㄤ ㄐㄧㄢ ㄘㄜ

扩展释义

常用的探伤方法有：X光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤（着色探伤）、涡流探伤、γ射线探伤、萤光探伤等方法。