聚形条纹

基本属性

• 拼音字母ju xing tiao wen
• 拼音首字母jxtw
• 注音符号ㄐㄩ ㄒㄧㄥ ㄊㄧㄠ ㄨㄣ

扩展释义

聚形条纹（combinationstriation）：又称生长条纹（growth striation）、晶面条纹（stria,strintion）。是指单晶体中，出现于同一单形的各个晶面上的直线状条纹。它是在晶体成长过程中，由两个单形的细窄晶面成阶梯状生长反复交替出现而形成的。