归一化探测率

基本属性

• 拼音字母gui yi hua tan ce lv
• 拼音首字母gyhtcl
• 注音符号ㄍㄨㄟ ㄧ ㄏㄨㄚ ㄊㄢ ㄘㄜ ㄌㄩ

扩展释义

归一化探测率（Normalized Detectivity）是光电探测器的主要性能指标之一，即比探测率。该指标描述的是探测器材料对弱光的探测能力。图片所示是几种常用探测器的归一化探测率值，数值越大表示性能越好。