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2026-07-11 21:28:54

可测试性设计

基本属性

  • 拼音字母ke ce shi xing she ji
  • 拼音首字母kcsxsj
  • 注音符号ㄎㄜ ㄘㄜ ㄕ ㄒㄧㄥ ㄕㄜ ㄐㄧ

扩展释义

可测试性设计(英语:Design for Testability, DFT)是一种集成电路设计技术,它将一些特殊结构在设计阶段植入电路,以便设计完成后进行测试。

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